金薄膜UV透过特性对MCP电子增益测量影响的研究

• 作者: 但唐仁 姜得龙 李野 田景全 程轶 高延军
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微通道板 电子增益 UV光电法 UV透过率
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 31-33,37
• 页数: 4页
• 分类号: TN144
• 字数: 1889字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.03.008

摘要

介绍了微通道板的电子增益及其测量的UV光电法,并着重分析了UV光透过Au薄膜引起的附加输出(或附加增益)对测试结果的影响,给出了减小的途径,指出了应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	但唐仁		6	43	2.0	6.0
2	李野		5	32	2.0	5.0
3	高延军		2	30	1.0	2.0
4	田景全		2	30	1.0	2.0
5	程轶		1	1	1.0	1.0
6	姜得龙		1	1	1.0	1.0