Rs标准测量系统的研究及其误差讨论

• 作者: 吉争鸣 吴培亨 吴立勇 孙国柱 施建荣 曹春海 杨森祖 王相元 程其恒 蔡卫星 许华嵘 钱鉴
• 来源期刊: 低温物理学报
• 学科: 物理学
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 页码范围: 268-275
• 页数: 8页
• 分类号: O484
• 字数: 4295字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-3258.2002.04.006

摘要

本文主要介绍了按照目前国际上制定的超导薄膜表面阻抗Rs标准测量方案(IEC/TC90)设计并制造的Rs标准测量系统,对实验过程中系统的细节作了改进,测试精度及可靠性作了分析,实验及结果证明该标准的可行性,同时说明了我们的测试系统符合国际超导薄膜表面阻抗Rs标准测量的要求.