IEC火花试验装置检验容性电路的新途径

• 作者: 付淑玲
• 来源期刊: 电气防爆
• 学科: 工学
• 关键词: 电容性电路 火花试验 灵敏度
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 所属期刊栏目: 国外防爆技术
• 页码范围: 35-37
• 页数: 3页
• 分类号: TM1
• 字数: 2252字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-9118.2002.03.012

摘要

目前,利用"IEC本安电路火花试验装置",对时间常数较大的电容性电路试验,在多数情况下都采用拔钨丝根数来实现.经过近十多年的实际运行表明,这种简单的替代可能降低了试验电容性电路的灵敏度.本文通过对阻容性电路的充放电时间及IEC火花试验装置打火间隔的理论分析和计算,找出了灵敏度低的原因,并探讨了在不影响IEC火花试验装置性能指标的前提下,试验电容性电路的新途径.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	付淑玲		1	9	1.0	1.0