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摘要:
ZnO压敏电阻在0.05 mol/L NaOH的电解液中作直流电解处理后,出现化学蜕变,漏电流增加、非线性特性减弱,经热处理后其压敏特性又可恢复.它与通常的电学蜕变不同,经论证认为,这种蜕变是属于氢原子在瓷体晶粒边界附近中的还原作用所致.文中还讨论了其可能的蜕变机理.
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文献信息
篇名 ZnO压敏电阻的化学蜕变
来源期刊 电子元件与材料 学科 工学
关键词 压敏电阻 化学蜕变 蜕变机理 氢还原
年,卷(期) 2002,(4) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 12-14
页数 3页 分类号 TN304.93|TM534.1
字数 3532字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-2028.2002.04.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李标荣 3 44 3.0 3.0
2 陈王丽华 香港理工大学应用物理系 27 186 7.0 13.0
3 陈万平 香港理工大学应用物理系 3 9 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
压敏电阻
化学蜕变
蜕变机理
氢还原
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子元件与材料
月刊
1001-2028
51-1241/TN
大16开
成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
62-36
1982
chi
出版文献量(篇)
5158
总下载数(次)
16
总被引数(次)
31758
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