相阵天线激励器自动测试系统的设计

• 作者: 姚海鹏
• 来源期刊: 电讯工程
• 学科: 工学
• 关键词: 相阵天线 激励器 自动测试系统 矢量网络分析仪 VHDL语言 计算机 移相器
• 年，卷（期）: dxgc_2002,（3）
• 页码范围: 17-22
• 页数: 6页
• 分类号: TN821.8

摘要

介绍了相阵天线激励器自动测试系统的设计过程，利用现场可编程逻辑器件FPGA实现其硬件电路的设计。FPGA器件选用美国Xilinx公司产品，XCS30XL TQ144AKP0225，PROM为17S30LPCD，软件开发工具为爱迪公司Active5.1，用VHDL硬件描述语言实现FPGA设计。本测试系统主要实现：相阵天线激励器功能检测，激励器十六态移相值测试，测试数据处理等工作。