X射线数字分层成像的非线性方法研究

• 作者: 倪建平 刘亚强 康克军 李政 王 程建平
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: X射线 数字分层成像 非线性算法 高斯分布算法
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 页码范围: 35-37,67
• 页数: 4页
• 分类号: TL82|TL99
• 字数: 2787字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2002.01.010

摘要

对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像的研究,是无损检测技术的一个重要应用领域.通过实验可观察到,在接近焦平面时图像的灰度值有一定的非线性,提出了一种新的成像方法,可以提高灵敏度,非线性的层面合成可以仅仅从很少的投影中重建物体,并使测量时间大大减少.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	康克军	清华大学工程物理系	79	661	12.0	23.0
2	刘亚强	清华大学工程物理系	29	92	5.0	7.0
3	程建平	清华大学工程物理系	107	664	13.0	20.0
4	李政	清华大学工程物理系	199	3420	34.0	49.0
5	倪建平	清华大学工程物理系	17	69	4.0	7.0
6	王	清华大学工程物理系	1	1	1.0	1.0