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摘要:
利用电化学方法研究了B10合金在含有硫酸盐还原菌的Postgate C培养基中的腐蚀电化学为.结果表明,在有菌培养基中,B10合金的腐蚀电位剧烈负移,腐蚀速率显著增加,同时,由于硫化物覆盖层的形成,其阳极极化曲线出现"钝化"现象.电子探针测量表明合金发生了镍和铁的选择性溶解,腐蚀形貌呈海绵状.
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文献信息
篇名 B10合金的硫酸盐还原菌腐蚀研究
来源期刊 电化学 学科 工学
关键词 铜一镍合金 微生物腐蚀 硫酸盐还原菌
年,卷(期) 2002,(2) 所属期刊栏目 第11次全国电化学会议论文选辑
研究方向 页码范围 191-194
页数 4页 分类号 TG172
字数 1576字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1006-3471.2002.02.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 吴建华 七二五研究所青岛分部 14 258 10.0 14.0
2 钱建华 七二五研究所青岛分部 5 66 4.0 5.0
3 刘光洲 七二五研究所青岛分部 3 57 3.0 3.0
4 马焱 七二五研究所青岛分部 2 36 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
铜一镍合金
微生物腐蚀
硫酸盐还原菌
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
电化学
双月刊
1006-3471
35-1172/O6
大16开
福建省厦门市厦门大学D信箱(化学楼)
34-61
1995
chi
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1802
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9
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16377
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