提高线阵CCD拼接精度的研究

• 作者: 刘亚南 李英才 相宝林 石松令
• 来源期刊: 测试技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: CCD器件 光学拼接 误差压缩 误差分离
• 年，卷（期）: 2002,（z1）
• 所属期刊栏目: 光电探测技术
• 页码范围: 430-434
• 页数: 5页
• 分类号: TN2
• 字数: 3401字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-7449.2002.z1.089

摘要

为了满足空间相机和其它监控、侦察相机高分辨率和宽收容度的要求,目前采用了多片CCD光学拼接技术.本文给出了线阵CCD的拼接模型,说明了CCD光学拼接的原理和方法.强调了拼接前对单片CCD物理特性和几何特性测量和挑选的重要性,以及在此基础上所采用的能显著提高拼接精度的误差压缩和误差分离的拼接方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李英才	中国科学院西安光学精密机械研究所	84	1293	20.0	31.0
2	刘亚南	中国科学院西安光学精密机械研究所	15	43	3.0	6.0
3	相宝林	中国科学院西安光学精密机械研究所	3	8	2.0	2.0
4	石松令	中国科学院西安光学精密机械研究所	2	5	1.0	2.0