应用XRF分析仪快速分析铁精矿中的Si、 S、K和TFe含量

• 作者: 肖刚毅 葛良全 赖万昌
• 来源期刊: 物探与化探
• 学科: 地球科学
• 关键词: X射线荧光分析 铁精矿 现场快速分析
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 计算方法与信息处理
• 页码范围: 312-314
• 页数: 3页
• 分类号: P575.6
• 字数: 1956字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-8918.2002.04.017

摘要

论述了快速分析铁精矿中Si、S、K和TFe含量的现场X射线荧光技术,其分析精度、准确度均符合化学分析的误差标准,满足实际生产要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	葛良全	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	335	1967	19.0	25.0
2	赖万昌	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	150	873	15.0	20.0
3	肖刚毅	成都理工大学应用核技术与自动化工程学院	7	146	7.0	7.0