楼宇自控系统可靠性设计技术

• 作者: 陈永鹏
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 楼宇自控系统 干扰 可靠性
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 31-34
• 页数: 4页
• 分类号: TP273
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.04.009

摘要

介绍了影响楼宇自控系统(BAS)可靠性的主要因素以及在系统设计的全过程中可采用的各种可靠性设计技术.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈永鹏		1	3	1.0	1.0