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光切显微镜数显化
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上海计量测试
主办单位：
上海市计量测试技术研究院
上海市计量测试学会
上海市计量协会
出版周期：
双月刊
ISSN：
1673-2235
CN：
31-1424/TB
开本：
大16开
出版地：
上海市宜山路716号
邮发代号：
4-769
创刊时间：
1973
语种：
chi
出版文献量（篇）
3176
总下载数（次）
7
总被引数（次）
5260
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