两期膜槽压高的原因比较

• 作者: 张国臣 李晓四
• 来源期刊: 中国氯碱
• 学科: 工学
• 关键词: 电流效率 槽电压 电流密度 膜结构 过电压
• 年，卷（期）: 2002,（8）
• 所属期刊栏目: 离子膜
• 页码范围: 13-14
• 页数: 2页
• 分类号: TQ15
• 字数: 2358字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-1785.2002.08.004

摘要

宝硕集团化工分公司二、三期离子膜电压高的原因不同,分析影响槽压的膜结构、电流密度、烧碱浓度、盐水质量、槽温、接触压降,三期膜压高的原因是阴阳极活性衰减所致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张国臣		4	17	2.0	4.0
2	李晓四		1	1	1.0	1.0