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推荐文章
倒装芯片封装结构中SnAgCu焊点热疲劳寿命预测方法研究
热疲劳
寿命预测
倒装芯片焊点
无铅化
倒装芯片拉脱试验分析与测试方法改进研究
倒装片
拉脱试验
测试方法
避免发生芯片裂纹的倒装片BGA技术概述
球栅阵列封装
裂纹
芯片
有限单元分析
倒装片
断裂力学
设计工艺
倒装芯片焊点可靠性的有限元模拟法综述
倒装芯片
焊点可靠性
有限元
热循环
应力/应变
疲劳寿命模型
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 多芯片机械电子功率封装用的倒装芯片焊接
来源期刊 混合微电子技术 学科 工学
关键词 倒装芯片焊接 多芯片机械电子功率封装 功率耗散 绝缘金属基板 IMS 电镀共晶焊料凸点
年,卷(期) hhwdzjs_2002,(4) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 15-23
页数 9页 分类号 TN405
字数 语种 中文
DOI
五维指标
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2002(0)
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研究主题发展历程
节点文献
倒装芯片焊接
多芯片机械电子功率封装
功率耗散
绝缘金属基板
IMS
电镀共晶焊料凸点
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
混合微电子技术
季刊
安徽省合肥市6068信箱(合肥市绩溪路260号)
出版文献量(篇)
1458
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