用光谱仪测量M-Z电光调制器大调制指数

• 作者: 吴伯瑜 周伟勤 张兵 彭吉虎 易鸿 李琰斐 阳辉
• 来源期刊: 清华大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: M-Z电光调制器 调制指数 光谱分析仪
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 电子工程
• 页码范围: 4-6
• 页数: 3页
• 分类号: TN102
• 字数: 2235字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-0054.2002.01.004

摘要

调制器频率响应的测量,在调制频率大于50 Hz的情况下, 用扫频法很难进行.该文提出了一种利用光谱仪测量Mach-Zehnder (M-Z) 电光调制器调制指数的频率响应的方法.通过调制器的直流特性,以及在一定的驱动功率和频率下,改变调制器的偏置点得到的相应的输出光谱,求解方程组得出该频率和功率下调制器的调制指数Γ1δ+Γ2δ. 按照该文提出的测试方法,对几组相同调制频率,不同输入功率下的输出光谱进行测试,并将测试结果与理论结果进行比较,二者符合相当好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阳辉	清华大学电子工程系	21	98	5.0	9.0
2	吴伯瑜	清华大学电子工程系	12	138	7.0	11.0
3	彭吉虎	清华大学电子工程系	8	42	4.0	6.0
4	张兵	清华大学电子工程系	6	75	5.0	6.0
5	周伟勤	清华大学电子工程系	3	30	2.0	3.0
6	易鸿	清华大学电子工程系	3	30	2.0	3.0
7	李琰斐	清华大学电子工程系	1	2	1.0	1.0