MCM 测试策略

• 作者: 郭志扬 金娜
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: MCM KGD 边界扫描技术 可测性设计
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 大规模集成电路设计、制造与应用
• 页码范围: 16-18，22
• 页数: 4页
• 分类号: TN4
• 字数: 4097字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2002.01.005

摘要

首先分析了MCM的测试难度,针对"KGD"问题,阐述了电路在圆片级、小裸片级测试的构思和具体实施办法,讨论了基于边界扫描技术的测试方法,强调了可测试设计技术,从而提出了MCM的测试策略.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金娜		5	27	3.0	5.0
2	郭志扬		2	8	1.0	2.0