LCD 参数测试系统中的偏光响应

• 作者: 内田龙男 邵喜斌
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: LCD参数 偏光响应 偏振光源
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 77-83
• 页数: 7页
• 分类号: TN873.93
• 字数: 1072字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-2780.2002.02.001

摘要

由于一般的液晶显示器件都使用了偏振片,对其参数的测试类似于偏光元件的测试,系统的偏光响应会影响某些参数的准确评价.通过分析液晶器件参数测试系统LCT5016, 我们发现光谱仪的偏振依赖性敏感度和部分偏振的光源严重影响了某些测试结果.探讨了一系列的消除偏光响应的方法,包括测试过程和光学系统的设计.我们设计的补偿器能够在整个可见光谱范围内有效地消除偏光成分.这些方法可用于消除一般光学测试系统中的偏光响应.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邵喜斌	东北大学院工学研究科电子工学专攻内田研究室	12	137	5.0	11.0
5	内田龙男	中国科学院长春光学精密机械与物理研究所	1	3	1.0	1.0