通路时延测试综述

• 作者: 李华伟 李忠诚 闵应骅
• 来源期刊: 计算机工程与科学
• 学科: 工学
• 关键词: 时延测试 通路时延故障 可测试性
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 可靠性与容错
• 页码范围: 80-83
• 页数: 4页
• 分类号: TP302
• 字数: 4338字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-130X.2002.02.020

摘要

本文对目前通路时延测试领域的主要研究成果进行了综述,阐述了主要的通路时延可测试性及相应的单通路时延故障的分类,并介绍了三种精简通路集的通路时延测试方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李华伟	中国科学院计算技术研究所信息网络实验室	55	595	14.0	22.0
2	闵应骅	中国科学院计算技术研究所信息网络实验室	46	481	12.0	20.0
3	李忠诚	中国科学院计算技术研究所信息网络实验室	109	1470	22.0	33.0