微焦点X射线分层成像无损检测方法

• 作者: 倪建平 康克军 李政 王学武 王瑕 程建平
• 来源期刊: 无损检测
• 学科: 工学
• 关键词: 射线检验 数字分层成像 复合材料 印制电路板
• 年，卷（期）: 2002,（5）
• 页码范围: 185-187
• 页数: 3页
• 分类号: TG115.28|TL82|TL99
• 字数: 2122字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6656.2002.05.001

摘要

对薄层结构的复合材料及多层电路板进行密度分布情况及分层成像研究.提出一种新的成像方法,即在现有微焦点X辐射成像系统的基础上,采用一种特殊的摆动式扫描方式,非线性的层面合成可以仅仅从很少的投影中重建物体,该法具有扫描速度快、算法简单、实时性好等特点,适于多层大面积复合材料以及多层电路板的快速成像检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	康克军	清华大学工程物理系	79	661	12.0	23.0
2	程建平	清华大学工程物理系	107	664	13.0	20.0
3	李政	清华大学工程物理系	199	3420	34.0	49.0
4	王学武	清华大学工程物理系	17	163	5.0	12.0
5	倪建平	清华大学工程物理系	17	69	4.0	7.0
6	王瑕	清华大学工程物理系	1	4	1.0	1.0