主成分回归--四阶导数光谱法用于钼、钨的同时测定

• 作者: 司圣柱 吴庆生
• 来源期刊: 安徽教育学院学报
• 学科: 化学
• 关键词: 主成分回归 四阶导数光谱 钼钨
• 年，卷（期）: 2002,（3）
• 页码范围: 48-49,62
• 页数: 3页
• 分类号: O657.32
• 字数: 2509字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-2273.2002.03.017

摘要

本文将主成分回归法用于解析钼、钨与SAF-CTMAB形成配合物体系的四阶导数光谱数据,以实现对钼、钨的同时测定.探讨了主因子数、校准集样品数对校准结果的影响;对合成样品进行分析,结果与加入值相当吻合.当M0:W为1:10～10:1时,二者的相对误差一般在±10%之内,对于Mo:W为1:40,且Mo的含量低至2×10-6μg·L-1的样品仍可获得满意的结果.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴庆生	同济大学化学系	66	599	14.0	20.0
2	司圣柱	安徽教育学院化学系	7	45	4.0	6.0