铁电薄膜开关特性理论可靠性分析

• 作者: 周青春 王齐放
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 其他
• 关键词: 铁电薄膜 开关特性 电流密度
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 页码范围: 458-460
• 页数: 3页
• 分类号: O-484|TN104
• 字数: 2033字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2002.04.030

摘要

将Ishibashi-Takagi的Ⅰ类和Ⅱ类铁电薄膜开关特性理论与同时考虑两种类型的理论结果进行了比较,研究结果表明,Ishibashi-Takagi理论较合理地反应了铁电薄膜中电畴反转特征,仅在较小范围内有必要考虑Ⅰ、Ⅱ类铁电体的联合作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周青春	华东船舶学院基础学科系	34	34	3.0	3.0
2	王齐放	华东船舶学院基础学科系	5	6	2.0	2.0