温度对MOA电阻片主要电气性能的影响

• 作者: 朱跃 郭洁
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 学科: 工学
• 关键词: 热崩溃 荷电率 温度系统 残压
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 避雷器
• 页码范围: 28-30，33
• 页数: 4页
• 分类号: TM862
• 字数: 2007字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8337.2002.02.007

摘要

对MOA电阻片在不同温度下几项主要电气特性试验结果进行了分析,阐述了温度对电阻片主要电气特性的影响,给出了详细的性能参数随温度的变化曲线,使人们对国产电阻片的温度特性有一个较全面的了解和掌握,以采取有效的措施大幅度地改善电阻片的固有温度特性,提高电阻片的综合电气性能,减少高压、超高压MOA的损坏事故率,发展高性能特高压MOA,提高MOA的运行可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭洁		9	100	6.0	9.0
2	朱跃		7	123	6.0	7.0