离子质谱及其应用

• 作者: 方培源 曹永明 王铮
• 来源期刊: 理化检验-物理分册
• 学科: 工学
• 关键词: 离子源 质谱仪 检测器
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 表面分析技术专题讲座
• 页码范围: 271-275
• 页数: 5页
• 分类号: TH843
• 字数: 4579字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-4012.2002.06.013

摘要

离子质谱按照物质电离后质量与电荷的比值(即荷质比m/e)大小进行分离,可以测定离子的质量和离子流的强度[¨.能快速连续地进行未知样品中包括氢在内的全元素分析和杂质同位素分析、微区微量分析和杂质纵向分布的深度剖析,因此被广泛应用于产、学、研的各个领域.对于一个样品进行离子质谱分析的整个过程必须包括三个部分:离子的产生--离子源;离子的分离--质谱计;离子流的接收--检测系统.整个分析过程必须在高真空条件下进行.各种不同的离子源、质谱计和检测系统组合成各种不同类型的质谱仪.按离子源分类,可以有火花源质谱仪,辉光放电质谱仪,等离子体质谱仪、二次离子质谱仪等.按质谱仪可以分为磁质谱计,飞行时间质谱计和电四极杆质谱计等.检测系统可以是感光胶板、电子倍增器、双通道板、CCD和RAE等.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	方培源	复旦大学材料科学系	12	76	5.0	8.0
2	曹永明	复旦大学材料科学系	14	64	4.0	7.0
3	王铮	复旦大学材料科学系	11	57	4.0	7.0