彩色显像管早期失效的机理研究

• 作者: 徐欣 金志敏 钱永生
• 来源期刊: 光电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 残气质谱分析 慢漏快检 氦质谱检漏 氧化物阴极的可逆性中毒
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 可靠性研究
• 页码范围: 26-32
• 页数: 7页
• 分类号: TN141.3+2
• 字数: 6360字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-488X.2002.01.006

摘要

介绍了几只彩色显像管早期失效的性能特征和对其失效原因的诊断过程.其间,我们先后采用了残气质谱分析、慢性漏气的快速无损检测以及氦质谱检漏等技术手段来寻找失效原因.文中,重点介绍了"慢漏快检"的原理及其检测结果;其后,从理论上分析了这类管子的早期失效机理并对相关问题进行了讨论.最后,总结出的一些对策在付诸实施后,已取得了良好的预防效果.彩色显像管的早期失效并非仅这一种原因,应该针对其性能特征来具体分析,本文只提供解决本类型早期失效管的一种方法,仅供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	金志敏		1	0	0.0	0.0
2	徐欣		1	0	0.0	0.0
3	钱永生		1	0	0.0	0.0