烧结温度对氧化铝陶瓷介质陷阱分布的影响

• 作者: 丁立健 吕金壮 屠幼萍 李成榕 王景春 程养春
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 陶瓷 氧化铝 陷阱分布 烧结温度
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 测试与分析
• 页码范围: 40-42,45
• 页数: 4页
• 分类号: TB303|TG111.2
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2002.06.009

摘要

论文采用等温衰减电流法研究了在不同烧结温度下制备的陶瓷试样的陷阱分布.试验结果表明,烧结温度能够影响到氧化铝陶瓷介质的陷阱分布.微观结构分析表明,不同的烧结温度会导致陶瓷介质不同数量的结构缺陷,从而造成了它们陷阱分布的不同.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李成榕		161	3340	34.0	49.0
2	程养春		46	905	18.0	29.0
3	王景春		13	256	6.0	13.0
4	屠幼萍		45	604	15.0	24.0
5	丁立健		26	645	15.0	25.0
6	吕金壮		6	90	4.0	6.0