基于AT90系列单片机的过载存储测试系统

• 作者: 万丽珍 汪韧冬 白玉贤
• 来源期刊: 兵工自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 测试系统 单片机 过载存储
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 武器装备自动化
• 页码范围: 28-30
• 页数: 3页
• 分类号: TJ410.6
• 字数: 2285字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1006-1576.2002.01.008

摘要

基于ATMEL 90系列单片机AT90S8515为系统控制器的过载存储测试仪,实现了野外过载存储系统的小型化.该过载存储测试仪由传感器、电荷放大器、模数转换接口、数据存储器及单片机系统组成.关键技术是解决物理寻址扩展以满足存储容量,及采样周期中完成模数转换和结果存储.其软件系统以C/C++为编程工具,包括写入单片机存储器工作程序与其它计算机的通讯,以及其它装载计算机对存储测试系统的处理.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	万丽珍	北京理工大学机电工程学院	8	113	4.0	8.0
2	汪韧冬	北京理工大学机电工程学院	1	2	1.0	1.0
3	白玉贤	北京理工大学机电工程学院	7	52	4.0	7.0