Ti1-xVxO2薄膜的制备及光电性能

• 作者: 叶宏伟 施永明 赵高凌 韩高荣
• 来源期刊: 材料研究学报
• 学科: 工学
• 关键词: 溶胶凝胶法 Ti1-xVxO2 固溶体薄膜 电阻率
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 51-54
• 页数: 4页
• 分类号: TB383|O484
• 字数: 2043字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1005-3093.2002.01.011

摘要

用溶胶凝胶法制备了Ti1-xVxO2薄膜.用X射线衍射分析了Ti1-xvxO2的结晶性能.用Lambda紫外-可见光光度计测量了吸收光谱.用ZC36高阻仪测量了 Ti1-xVxO2薄膜样品的电性能.结果表明:钒含量的增加导致Ti1-xVxO2薄膜光学吸收限红移,在形成固溶体后薄膜的电阻率随钒含量增加而下降在x=0.15时.V2O5相的出现使Ti1-xVxO2薄膜的电阻率出现-峰值Ti1-xVxO2薄膜电阻率的这种变化规律是由于V的3d电子的引入和薄膜结晶性的变化

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩高荣	浙江大学硅材料国家重点实验室	187	1971	24.0	35.0
2	赵高凌	浙江大学硅材料国家重点实验室	45	462	14.0	20.0
3	叶宏伟	浙江大学硅材料国家重点实验室	9	111	6.0	9.0
4	施永明	浙江大学硅材料国家重点实验室	3	11	2.0	3.0