XRF光谱法测定铁矿石中的Al2O3

• 作者: 宋兆华 谢桂龙 项志清
• 来源期刊: 南方金属
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光光谱法 基体效应 定量分析 铁矿石 三氧化二铝
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 技术应用
• 页码范围: 6-8
• 页数: 3页
• 分类号: TF521|TH744
• 字数: 2058字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9700.2002.01.002

摘要

介绍采用X射线荧光光谱粉末压片法测定铁矿石中AL2O3. 从待测试样中选取一批试样, 经ICP及化学分析法多次定值后, 在X荧光光谱仪上绘制Al2O3的光谱强度值与Al2O3质量百分含量的工作曲线. 此方法减少了不同矿种带来的基体影响. 准确度和精确度都满足生产分析的需要.