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摘要:
所有的红外焦平面阵列必须进行非均匀性校正.两点线性校正法是最先开发研究的方法之一,也是使用最广泛的校正方法.然而由于响应率的非线性和噪声等原因两点线性校正后仍然存在误差.本文分析并计算了两点线性校正误差,并指出了减少非均匀校正误差的方法.
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文献信息
篇名 红外焦平面阵列两点线性校正法的研究
来源期刊 光电子技术 学科 工学
关键词 红外焦平面 非均匀校正 两点线性校正法 误差
年,卷(期) 2002,(3) 所属期刊栏目 研究与试制
研究方向 页码范围 164-167
页数 4页 分类号 TN216
字数 2380字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1005-488X.2002.03.010
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵琦 南京理工大学电子工程与光电技术学院 50 236 8.0 12.0
2 皮德富 南京理工大学电子工程与光电技术学院 7 94 4.0 7.0
3 沈晓燕 南京理工大学电子工程与光电技术学院 8 119 4.0 8.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
红外焦平面
非均匀校正
两点线性校正法
误差
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光电子技术
季刊
1005-488X
32-1347/TN
16开
南京中山东路524号(南京1601信箱43分箱)
1981
chi
出版文献量(篇)
1338
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