几何分布在“零失效”成败型串联系统可靠性评估中的应用

• 作者: 孙新利 王志平
• 来源期刊: 导弹试验技术
• 学科: 工学
• 关键词: 成败型串联 可靠性评估 几何分布 零失效 产品故障
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 页码范围: 47-49
• 页数: 3页
• 分类号: TB114.3
• 语种: 中文

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙新利		53	234	7.0	12.0
2	王志平		1	0	0.0	0.0