运行30年以上的瓷悬式绝缘子老化性能的分析

• 作者: 唐世宇 杨国建 陈宁
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 学科: 工学
• 关键词: 旧绝缘子 试验 机电破坏负荷
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 绝缘子
• 页码范围: 10-11,17
• 页数: 3页
• 分类号: TM216
• 字数: 1963字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-8337.2002.04.003

摘要

对运行中30年以上的瓷绝缘子的工频火花电压试验,击穿电压试验1h机电负荷,机电破坏试验,孔隙试验和温度循环试验数据进行定性、定量分析,运用概率统计的方法,分析计算得出样本试验结果的可靠性范围和继续运行的可能性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	唐世宇		7	112	5.0	7.0
2	陈宁		4	22	3.0	4.0
3	杨国建		1	4	1.0	1.0