微焦点工业CT在钡钨阴极分析中的应用

• 作者: 丁耀根 张红卫 白振纲
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 计算机断层扫描 钡钨阴极 数字矩阵
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 49-50
• 页数: 2页
• 分类号: O462
• 字数: 1005字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8935.2002.06.013

摘要

介绍了计算机断层扫描(CT)成像的基本原理和设备基本组成,并用微焦点工业CT系统来分析钡钨阴极的内部微细结构,充分证明了微焦点工业CT系统在对钡钨阴极的分析中有着良好的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	白振纲	中科院电子所	3	20	2.0	3.0
2	张红卫	中科院电子所	3	20	2.0	3.0
3	丁耀根	中科院电子所	2	20	2.0	2.0