交流接触器可靠性试验中若干问题的探析

• 作者: 刘忠和 叶琳 周建平 王广勇 马彪
• 来源期刊: 上海电器技术
• 学科: 工学
• 关键词: 可靠性 失效率 吸合时间 释放时间
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 产品试验 质量管理
• 页码范围: 45-47,50
• 页数: 4页
• 分类号: TM5
• 字数: 3695字
• 语种: 中文

摘要

本文就正泰集团公司试验站在交流接触器可靠性试验过程中遇到诸如试验电压、负载条件及试验装置等技术问题进行探析,分析了交流接触器早期失效率偏高的原因.提出用RA1300数字贮存示波器捕获整个失效过程曲线以监视试验装置失效记录的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	叶琳	正泰集团公司试验站	3	5	2.0	2.0
2	周建平	正泰集团公司试验站	1	2	1.0	1.0
3	刘忠和	正泰集团公司试验站	1	2	1.0	1.0
4	马彪	正泰集团公司试验站	1	2	1.0	1.0
5	王广勇	正泰集团公司试验站	1	2	1.0	1.0