带故障过程FDD技术研究现状及展望

• 作者: 孙国基 胡绍林 黄刘生
• 来源期刊: 自动化博览
• 学科: 工学
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 科普园地
• 页码范围: 48-49,57
• 页数: 3页
• 分类号: TP30
• 字数: 3443字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0492.2002.04.017

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄刘生	中国科学技术大学计算机系	134	1203	17.0	28.0
2	孙国基		105	1643	20.0	37.0
3	胡绍林		5	26	3.0	5.0