边界扫描测试技术

• 作者: 刘洪民 吴德馨 王孜
• 来源期刊: 半导体技术
• 学科: 工学
• 关键词: 边界扫描 边界扫描测试技术 印刷电路板
• 年，卷（期）: 2002,（9）
• 所属期刊栏目: 专题报道
• 页码范围: 17-20,29
• 页数: 5页
• 分类号: TN707
• 字数: 3109字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-353X.2002.09.007

摘要

边界扫描技术是一种标准化的可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试.介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了边界扫描技术的应用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴德馨	中国科学院微电子中心	58	345	11.0	14.0
2	王孜	中国科学院微电子中心	3	19	1.0	3.0
3	刘洪民	中国科学院微电子中心	7	69	5.0	7.0