用全息二次曝光法分析岩石侧向受压形变规律

• 作者: 刘冬梅 董太源 谢锦平 黄文勇 龚永胜
• 来源期刊: 激光杂志
• 学科: 物理学
• 关键词: 二次曝光法 干涉条纹 光程差 位移
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 光全息与信息处理
• 页码范围: 61-62
• 分类号: O4
• 字数: 1943字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-2743.2002.01.023

摘要

本文阐述了岩石侧向受压情况下二次曝光全息干涉条纹的形成原理,分析了干涉条纹分布与岩石形变的关系,指出当出现密集的纵向干涉条纹时,岩石将产生粉碎性断裂.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谢锦平		17	103	5.0	9.0
2	刘冬梅		10	190	8.0	10.0
3	龚永胜		4	41	4.0	4.0
4	董太源		6	83	5.0	6.0
5	黄文勇		1	6	1.0	1.0