均匀性度量中的密集性偏差与稀疏性偏差

• 作者: 李德华 王祖喜 胡东红
• 来源期刊: 数学物理学报
• 学科: 数学
• 关键词: 均匀性 偏差
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 页码范围: 128-134
• 页数: 7页
• 分类号: O212.1
• 字数: 4230字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1003-3998.2002.01.019

摘要

该文根据王元,方开泰[2]的近似偏差(discrepancy)的均匀性准则,定义了理想布点情况下的标准半径,定义了m维单位子空间Cm=[0,1]中两点间的f距离和g距离,由此定义了最大空穴半径和最小空穴半径,提出了均匀性度量的密集性偏差与稀疏性偏差.给出了二维情况下的计算结果.我们的方法计算量不大,不仅能较好地度量布点的均匀性以及布点在低维投影的均匀性,而且能指导如何调整布点使之尽可能与理想布点接近.