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摘要:
在国产分子束外延设备的基础上,利用新型阀控裂解As源炉,对As2和As4的生长特性进行了全面的研究.以As2和As4两种模式,在(001)InP衬底上生长了高质量的InAsP体材料和InAsyP1-y/InP多量子阱样品.材料质量用X射线衍射(XRD)以及室温和低温的光致发光(PL)测定.实验发现,两种模式生长的样品的晶体结构质量相当,但As2的吸附系数明显大于As4的吸附系数.另外,用As2模式生长的多量子阱样品的室温光学特性优于As4模式生长的样品,但在低温时,二者几乎相同,这是由As4较为复杂的生长机制所引入的缺陷造成的.
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 采用As2和As4模式的新型全固源InAsP分子束外延生长
来源期刊 半导体学报 学科 工学
关键词 全固源分子束外延 InAsyP1-y/InP量子阱 As2 As4
年,卷(期) 2002,(1) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 57-60
页数 4页 分类号 TN304.054
字数 2308字 语种 中文
DOI 10.3321/j.issn:0253-4177.2002.01.013
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研究主题发展历程
节点文献
全固源分子束外延
InAsyP1-y/InP量子阱
As2
As4
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
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期刊影响力
半导体学报(英文版)
月刊
1674-4926
11-5781/TN
大16开
北京912信箱
2-184
1980
eng
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