ZnO薄膜的反射、透射光谱及能带结构测量

• 作者: 何一平 傅竹西 廖桂红 林碧霞
• 来源期刊: 发光学报
• 学科: 物理学
• 关键词: 氧化锌薄膜 反射光谱 透射光谱 能带结构
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 559-562
• 页数: 4页
• 分类号: O472.3
• 字数: 1912字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-7032.2002.06.005

摘要

采用正入射的方法研究了生长在硅基片上的氧化锌薄膜的反射光谱,测量出氧化锌薄膜的光学吸收边在370nm,所对应的能量值为3.35eV.测量生长在石英玻璃基片上的氧化锌薄膜的透射光谱,得到相同的吸收边.表明ZnO薄膜的光学禁带宽度与体材料的禁带宽度一致.反射谱中,在550～600nm之间观察到一个吸收峰,吸收峰的位置以及吸收边的陡峭程度都随薄膜的结晶状况的不同而有所不同.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	傅竹西	中国科学院结构分析开放实验室	53	808	17.0	27.0
5	林碧霞	中国科学院结构分析开放实验室	32	700	16.0	26.0
9	何一平	中国科学院结构分析开放实验室	2	61	2.0	2.0
13	廖桂红	中国科学院结构分析开放实验室	8	281	7.0	8.0