电容型试品介质损耗因数变化的原因与分析

• 作者: 戴昌彬 洪贞贤
• 来源期刊: 变压器
• 关键词: 电流互感器 电容型试品 介质损耗因数 试验
• 年，卷（期）: 2002,（9）
• 所属期刊栏目: 运行维护
• 页码范围: 38-41
• 页数: 4页
• 分类号: TM407
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8425.2002.09.013

摘要

通过对电容型试品的绝缘介质损耗因数在不同的试验条件下变化原因的分析,总结出判断其绝缘缺陷的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴昌彬		3	19	2.0	3.0