电磁脉冲诱导小脑颗粒细胞凋亡的研究

• 作者: 曹晓哲 王德文 赵梅兰
• 来源期刊: 解放军医学杂志
• 学科: 生物学
• 关键词: 辐射 小脑颗粒细胞 凋亡
• 年，卷（期）: 2002,（10）
• 所属期刊栏目: 军事医学
• 页码范围: 930-932
• 页数: 4页
• 分类号: Q64
• 字数: 2809字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0577-7402.2002.10.032

摘要

以体外原代培养的小脑颗粒细胞为对象,研究电磁脉冲(场强为6×104 V/m)辐照后早期小脑颗粒细胞死亡和凋亡的变化情况.于照射后1、6、12、24和48h分别采用MTT法和流式细胞仪测定细胞活力和凋亡细胞的比例,用HE染色及TUNEL检测细胞凋亡并分别用普通光学显微镜和荧光显微镜进行凋亡观察,探讨电磁脉冲的可能致伤机制.结果显示,电磁脉冲辐照后,小脑颗粒细胞不仅发生快速的坏死,而且还发生细胞凋亡,于辐照后12h达到高峰.结果提示,电磁脉冲辐照后早期可导致小脑颗粒细胞凋亡和坏死,此改变可能与电磁脉冲致细胞DNA损伤有关.