氧化膜的形成机理与电容器的可靠性

• 作者: 刘宗才 杜杨 陈泳
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 阳极氧化 电解电容器 击穿 闪火电压 可靠性
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 所属期刊栏目: 电子元器件与可靠性
• 页码范围: 13-16
• 页数: 4页
• 分类号: TM535+.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2002.06.004

摘要

分析了铝电解电容器阳极氧化膜的形成过程,研究了影响氧化膜击穿和电解液闪火的因素,结论是氧气的析出是氧化膜击穿和电解液闪火的前驱点,以此为指导对电容器的老练工艺提出了改进,电容器的成品率得到大幅度的提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈泳	南京理工大学化工学院	3	25	3.0	3.0
2	杜杨	南京理工大学化工学院	27	184	7.0	13.0
3	刘宗才		1	14	1.0	1.0