用于绝缘子表面电荷测量的电容探头法的标度问题

• 作者: 张乔根 汪沨 胡红利 邱毓昌 陈庆国
• 来源期刊: 高压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘子 表面电荷 测量 标度
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 40-43
• 页数: 4页
• 分类号: TM16
• 字数: 3251字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1609.2002.02.013

摘要

80年代初,电容探头测量绝缘子表面电荷技术开始应用于高压领域,但由于问题的复杂性,该方法无论是在原理上还是在技术上都还有待于进一步完善.笔者综述了这一技术的原理、最新研究成果和将来可能的研究课题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱毓昌	西安交通大学电气工程学院	228	4719	36.0	54.0
2	张乔根	西安交通大学电气工程学院	156	1936	24.0	35.0
3	汪沨	西安交通大学电气工程学院	20	479	13.0	20.0
4	陈庆国	西安交通大学电气工程学院	18	320	11.0	17.0
5	胡红利	西安交通大学电气工程学院	40	316	10.0	16.0