一种红外焦平面非均匀性校正改进方法的研究

• 作者: 沈晓燕 皮德富
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 非均匀性校正 两点校正 偏置校正
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 所属期刊栏目: 系统与设计
• 页码范围: 4-7,11
• 页数: 5页
• 分类号: TN215
• 字数: 1897字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2002.01.002

摘要

微测辐射热计吸收入射红外辐射,引起读出电路输出信号的非均匀性.由于非均匀性校正的局限性,以前的微测辐射热计需要对基底温度进行精确控制.文中在两点校正法的基础上,提出了偏置校正法,可以放松对基底温度控制的要求.在常规两点增益与补偿校正法基础上,采用偏置校正,可在更宽的基底温度范围内进行非均匀性校正.这样的话,在读出电路片上进行基底温度控制是可能的.