半绝缘砷化镓的热激电流谱测量

• 作者: 王良 郑庆瑜
• 来源期刊: 现代仪器与医疗
• 关键词: 热激电流 半绝缘砷化镓 EL2缺陷
• 年，卷（期）: 2002,（2）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 21-24
• 页数: 4页
• 分类号: TN3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7916.2002.02.008

摘要

本文介绍了热激电流谱(TSC)测试方法,测量了SI-GaAs材料的TSC特征谱图.并对SI-GaAs的深能级中心的行为进行了初步的分析.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王良		2	3	1.0	1.0
2	郑庆瑜		2	3	1.0	1.0