用X荧光分析方法对大米加工过程中微量元素流失规律的研究

• 作者: 吴丽萍 张一云 梁勇飞 邓勇军
• 来源期刊: 四川大学学报(自然科学版)
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光分析 稻谷 糙米 精米 微量元素 流失
• 年，卷（期）: 2002,（6）
• 页码范围: 1065-1069
• 页数: 5页
• 分类号: O59|TS2
• 字数: 3638字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0490-6756.2002.06.020

摘要

作者通过X射线荧光分析法(XRF),测定了稻谷、糙米和精米中微量元素Zn,Cu,Fe,Ca,Mn等的含量,结果表明:大米的加工愈精细,其所含的微量元素损失愈严重.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张一云	四川大学物理科学与工程学院	40	376	11.0	18.0
2	梁勇飞	四川大学物理科学与工程学院	5	57	4.0	5.0
3	吴丽萍	四川大学物理科学与工程学院	30	208	8.0	12.0
4	邓勇军	四川大学物理科学与工程学院	3	40	3.0	3.0