利用线阵CCD非接触测量材料变形量的方法

• 作者: 于涓汇 张盛彬 王庆有 郭青
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: 非接触测量 线阵CCD 应力测量 变形测量
• 年，卷（期）: 2002,（4）
• 所属期刊栏目: 光学测量
• 页码范围: 20-23
• 页数: 4页
• 分类号: TG806
• 字数: 1497字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2002.04.006

摘要

用线阵CCD作为光电传感器非接触测量材料拉伸过程中的变形量,不但比常规的引伸计测量的方法更客观,而且可以测量材料拉伸变形到断裂的全过程.该方法能在X和Y两个方向上同时测量材料变形量,可以获得材料在实验的全过程中两个方向的"应力-应变"关系曲线.采用CCD拼接技术,测量精度可达到1(m,测量范围80mm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王庆有	天津大学精密仪器与光电子工程学院	21	214	8.0	14.0
3	郭青	天津大学精密仪器与光电子工程学院	12	202	5.0	12.0
7	于涓汇	天津大学精密仪器与光电子工程学院	2	49	2.0	2.0
13	张盛彬	天津大学精密仪器与光电子工程学院	4	78	3.0	4.0