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平板式探测器和常规X射线数字化成像未来
平板式探测器和常规X射线数字化成像未来
作者:
郭长运
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
非晶硅(aSi)FPD
非晶硒(aSe)FPD
CsI:Tl
aSe层
PIN光电二极管
薄膜晶体管(TFT)
数据读出放大器
DR
DF
X射线敏感度
电子噪声
调制传递函数(MTF)
检测量子效率(DQE)
曝光剂量
摘要:
本文综合论述、分析和讨论了平板检测器 ( FPD) 主要组成部分和整体检测器工作机理、优良特性和现有水平. 将用于数字化 X射线摄影 ( DR) 的 FPD和传统射线摄影用胶片 - 增感屏系统 ( 简称屏 - 片系统 ) 进行了比较.提及了 FPD DR系统代表着数字摄影系统优点且较其它系统具有优势 . 将用于数字化 X射线透视 ( DF) 的 FPD和传统射线透视用图像增强器 - 摄像器件系统 ( 简称 IIT系统 ) 进行了对比,也简述了 FPD DR和 DF系统某些产品的应用 . 文中分析认为 , 未来常规 X射线成像系统是和 FPD技术联系在一起的 .
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X射线成像
光栅相衬成像
探测器校正
闪烁薄膜探测器X/γ射线能量响应研究
薄膜闪烁体
能量响应
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内容分析
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平板式探测器和常规X射线数字化成像未来
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医学
关键词
非晶硅(aSi)FPD
非晶硒(aSe)FPD
CsI:Tl
aSe层
PIN光电二极管
薄膜晶体管(TFT)
数据读出放大器
DR
DF
X射线敏感度
电子噪声
调制传递函数(MTF)
检测量子效率(DQE)
曝光剂量
年,卷(期)
2002,(2)
所属期刊栏目
专论
研究方向
页码范围
1-8
页数
8页
分类号
R812
字数
8015字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1674-1633.2002.02.001
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
郭长运
2
48
2.0
2.0
传播情况
被引次数趋势
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
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(0)
共引文献
(0)
参考文献
(0)
节点文献
引证文献
(45)
同被引文献
(28)
二级引证文献
(245)
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参考文献(0)
二级参考文献(0)
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主办单位:
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出版周期:
月刊
ISSN:
1674-1633
CN:
11-5655/R
开本:
大16开
出版地:
北京市顺义区竺园路12号天竺综合保税区泰达科技园7号楼
邮发代号:
82-555
创刊时间:
1986
语种:
chi
出版文献量(篇)
14856
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40
总被引数(次)
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