低密度校验码在瑞利衰落信道中的性能分析

• 作者: 孙韶辉 王新梅 贺玉成
• 来源期刊: 计算机学报
• 学科: 工学
• 关键词: 低密度校验码 瑞利衰落信道 规则码 非规则码
• 年，卷（期）: 2002,（10）
• 所属期刊栏目: 研究论文与技术报告
• 页码范围: 1077-1082
• 页数: 6页
• 分类号: TP309
• 字数: 5302字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:0254-4164.2002.10.011

摘要

低密度校验(LDPC)码具有编码增益高、译码速度快、可并行译码等特点,是当前编码界的一个研究热点,但是目前已有的研究成果都集中在高斯信道上.该文分析和讨论了LDPC码在瑞利衰落信道下的性能,应用联合界技术推导了一个规则码的性能限,并给出了仿真结果,且发现LDPC码在瑞利衰落信道下也具有非常好的性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王新梅	西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室	236	1980	23.0	35.0
2	贺玉成	西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室	24	134	6.0	11.0
3	孙韶辉	西安电子科技大学综合业务网国家重点实验室	10	106	4.0	10.0