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摘要:
本文针对GJB548A<微电子器件试验方法和程序>中引线牢固性试验的条件A、B2中有关试验目的,失效判据及程序简单介绍了笔者的几点看法.
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文献信息
篇名 对国军标中引线牢固性试验的几点看法
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 国军标 引线牢固性 条件A、B2
年,卷(期) 2002,(4) 所属期刊栏目 政策与策略
研究方向 页码范围 4-5
页数 2页 分类号 TN306
字数 2356字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1681-1070.2002.04.002
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研究主题发展历程
节点文献
国军标
引线牢固性
条件A、B2
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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