基于软测量的电磁电器动态过程测试技术

• 作者: 张培铭 缪希仁
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软测量技术 动态过程 测试装置 电磁电器
• 年，卷（期）: 2002,（1）
• 页码范围: 73-76
• 页数: 4页
• 分类号: TM52
• 字数: 2384字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3321/j.issn:1000-6753.2002.01.015

摘要

针对现阶段电磁电器动态测试技术难以满足电器技术发展需要的现状,将软测量这一新兴工业技术引入电磁电器领域,提出了基于软测量的电磁电器动态过程测试技术.介绍了应用软测量的前提条件,在自行研制的光机电电磁电器动态测试装置中,成功地融入了软测量技术,并以CJ20-100A为例,实现了动态过程的软测量.该项技术的实际应用与深入研究将提高电器技术的发展水平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	缪希仁	福州大学电气工程系	140	1113	18.0	26.0
2	张培铭	福州大学电气工程系	123	1599	23.0	33.0